产品与方案

提供包括封装设计、封装、测试、可靠性验证等成套封测方案

单P

HYG060P04LQ1D

HYG060P04LQ1D

此器件为 P 沟道、-40V耐压、5.8mΩ内阻、TO-252-2L封装产品,芯片采用Trench工艺设计。该器件抗冲击能力强,适合较低开关频率应用,可满足负载开关、电池保护板等应用领域。

特性

低内阻      

符合RoHS标准                   

100% DVDS测试

100% UIL测试                    

领先的封装工艺 


优势

通态损耗小    

抗冲击能力强    

高可靠性

稳定的工艺能力


应用

负载开关,DC-DC,电池保护板 

HYG060P04LQ1D

模型